Using Fault Injection Technique in SoC Design Flow to Evaluate Shifting to a Smaller Technology Node
Abstract
This paper presents an approach to assessing the sufficiency of the measures used to mitigation faults in digital blocks of system-on-chip (SoC) during the shifting to technology with smaller technology node and the feasibility of this shifting, provided that the previous level of fault tolerance is maintained. The approach is based on the fault injection technique and is demonstrated by the example of shifting an external static memory controller from 250 nm to 65 nm technology.
About the Authors
P. Chernyakov
ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН
Russian Federation
Russian Federation
A. Skorobogatov
ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН
Russian Federation
Russian Federation
References
1. P. E. Dodd, M. R. Shaneyfelt, J. R. Schwank, J. A. Felix. Current and future challenges in radiation effects on cmos electronics. “IEEE Transactions on Nuclear Science”, V. 57 (2010), No. 4, 1747–1763. ISSN:0018-9499. DOI: 10.1109/TNS.2010.2042613.
2. И.А. Данилов, А.И. Шнайдер (Хазанова), А.О. Балбеков, М.С. Горбунов, А.А. Антонов. Маршрут разработки сбоеустойчивых СБИС с помощью программной инжекции сбоев с учетом топологии. «Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радио-электронную аппаратуру», 2019, Вып. 4, 5–10.
3. P. Chernyakov et al. Comparative Analysis of Layout-Aware Fault Injection on TMR-based DMA Controllers, “2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics (MIEL)”, Nis, Serbia, 2019, 289–292. DOI: 10.1109/MIEL.2019.8889643.
4. П.О. Черняков, А.П. Скоробогатов. Баланс сбоеустойчивости и быстродействия при переходе от 250 нм КНИ к 65 нм объемной КМОП технологии на примере контроллера памяти. «Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2021»: 24-я Всероссийская научно-техническая конференция. Лыткарино, 8–9 июня 2021 г. (тезисы)», Лыткарино, Изд-во Научно-исследовательский институт приборов, 2021, 26–27.
5. M. D. Berg, H. S. Kim, A. M. Phan, C. M. Seidleck, K. A. LaBel, J. A. Pellish, M. J. Campola. The effects of race conditions when implementing single-source redundant clock trees in triple modular redundant synchronous architectures. “Proceedings, 16th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2016)”, Germany, Bremen, 2016.
6. A. Evans, M. Glorieux, D. Alexandrescu, C.B. Polo, V. Ferlet-Cavrois. Single event multiple transient (SEMT) measurements in 65 nm bulk technology. “Proceedings, 16th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2016)”, Germany, Bremen, 2016.
Review
For citations:
Chernyakov P., Skorobogatov A. Using Fault Injection Technique in SoC Design Flow to Evaluate Shifting to a Smaller Technology Node. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ И КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ СЛОЖНЫХ СИСТЕМ: ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ АСПЕКТЫ. 2022;12(4):56-60. (In Russ.)
Views:
13
Email this article 